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ISSN1001-3806CN51-1125/TN 网站地图

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双折射晶体厚度干涉测量技术的研究
唐朝伟, 邵艳清, 何国田, 张鹏, 张旭详, 赵丽娟, 傅明怡
2008, 32(5): 521-522,530.
关键词: 测量与计量, 晶体厚度测量, 双折射特性, 干涉技术